Bevezetés
A mesterséges intelligencia korszakában az adatok értéke exponenciálisan növekszik, így a tárolási biztonság és teljesítmény kulcsfontosságú. A YMIN Electronics hardverszintű kikapcsolásvédelmi (PLP) kondenzátorok és alacsony ESR-értékű szűrőkondenzátorok kombinációját kínálja NVMe SSD-khez, lecserélve az NCC és Rubycon megoldásokat az adatok integritásának biztosítása érdekében. Szeptember 9. és 11. között látogassa meg a C10-es standot a pekingi ODCC kiállításon, hogy megvédje alapvető adatvagyonát!
A YMIN tárolási megoldásai két fő forgatókönyvre összpontosítanak.
① Áramkimaradás elleni védelem: Polimer hibrid alumínium elektrolitkondenzátorok (NGY/NHT sorozat) és folyékony alumínium elektrolitkondenzátorok (LKF/LKM sorozat) használatával ≥10 ms tartalék áramot biztosítanak a vezérlőchipnek hirtelen áramkimaradások esetén, biztosítva a gyorsítótárban tárolt adatok teljes körű írását.
② Nagy sebességű olvasási/írási stabilitás: A többrétegű polimer szilárd alumínium elektrolit kondenzátorok (MPX/MPD sorozat) akár 4,5 mΩ ESR-t kínálnak, biztosítva a ±3%-on belüli feszültségingadozást az NVMe SSD-ken végzett nagy sebességű olvasási/írási műveletek során.
③ Nagyfrekvenciás szűrés és tranziens válaszidő: A vezetőképes polimer tantál elektrolit kondenzátorok (TPD sorozat) ultra-alacsony ESR-rel büszkélkedhetnek, ami több mint ötször gyorsabb válaszidőt eredményez, mint a hagyományos kondenzátorok. Hatékonyan kiszűrik a nagyfrekvenciás zajt, tiszta energiát biztosítanak az SSD fő vezérlő chipjének, és jelentősen javítják az adatátvitel stabilitását.
④ Csere előnyei: A teljes sorozat 105°C-125°C üzemi hőmérséklet-tartományt, 4000-10 000 órás élettartamot és a japán márkákkal kompatibilis kialakítást támogat, lehetővé téve a tárolómodulok 99,999%-os megbízhatóságát.
Termék kiemelt jellemzői
Következtetés
Oszd meg a tárolási stabilitással kapcsolatos kihívásaidat kommentben, és nyerj ajándékot a kiállításon! Szeptember 9. és 11. között látogass el a C10-es standra az ODCC kiállításon, és hozd el SSD-megoldásodat tesztelésre és validálásra!
Közzététel ideje: 2025. szeptember 8.